更新時間：2023-06-27
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產(chǎn)品報(bào)價：
生產(chǎn)地址：深圳市
| 品牌 | 常州安柏 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,電氣 |
安柏AB3818精密LCR數(shù)字電橋
簡介
全新設(shè)計(jì)的AT3818采用真彩TFT-LCD顯示，全中文操作界面(可配置成英文界面)。采用大字體顯示，讀數(shù)更加直觀。
AT3818 采用10Hz～300kHz連續(xù)頻點(diǎn)，分辨率為0.001Hz。測試信號電平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0uA- 20.00mA，純直流信號源的DCR測量以及內(nèi)部直流偏壓±2.5V，同時可選外部偏置
AT3818可同時對元件的4參數(shù)進(jìn)行測試，每種參數(shù)都可任意配置，實(shí)現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對3組用戶頻率進(jìn)行校正，提高準(zhǔn)確度。
內(nèi)置14檔比較器，通過HANDLER接口結(jié)合PLC完成元器件的自動分選。
儀器標(biāo)配RS232、RS485和USB接口，支持SCPI協(xié)議和Modbus 協(xié)議，同時可以選配GPIB接口。
特征
真彩TFT-LCD顯示。
儲存999個LCD畫面檔案，觸發(fā)延遲
自動電平控制 (ALC)
校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零,三組用戶點(diǎn)頻校準(zhǔn)。
多頻測試：支持10個頻率掃描測試
多電平測試：支持10個電平掃描測試
10組文件管理，可存儲儀器狀態(tài),列表掃描設(shè)置和比較器設(shè)置。
增強(qiáng)型比較器（分選）功能：可編程的P1~P9 九檔分選，主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出，NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。
絕對偏差（ABS）比較方式、相對偏差（PER）和順序（SEQ）比較方式。
可開關(guān)的附屬檔（AUX）分選。
可編程1～256次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。
自定義分選結(jié)果訊響。
內(nèi)置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口，可選GPIB接口。
SCPI和Modbus 通信協(xié)議。
1000V沖擊保護(hù)
安柏AB3818精密LCR數(shù)字電橋規(guī)格
測量參數(shù) | Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR |
基本準(zhǔn)確度 | 慢速/中速：0.05%；快速：0.1% |
測試頻率 | 10Hz～300kHz（分辨率 0.001Hz） |
測試量程 | 自動、手動和標(biāo)稱量程，9量程 |
測試速度 | 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒 |
顯示范圍 | L: 0.00001μH-9999.99H |
輸出阻抗 | 30Ω，50Ω 和100Ω |
監(jiān)視參數(shù) | Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ% |
讀數(shù) | 所有參數(shù)全6位：999999 |
等效方式 | 串聯(lián)和并聯(lián)等效 |
信號電平 | 10.00mV~2.00V AC (支持恒電平) |
直流偏置 | -2.5V~+2.5V (0.5%+0.005V) |
平均次數(shù) | 1~256 |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部、手動、外部和遠(yuǎn)程 |
觸發(fā)延時 | 0.01ms~60s |
比較器 | 14檔分選，10組合格檔，1組不合格檔， |
列表掃描 | 10步（頻率、電壓和電流） |
比較方式 | 順序/絕對偏差/相對偏差 |
校準(zhǔn) | 開路清零、短路清零（掃頻和點(diǎn)頻) |
文件 | 內(nèi)部存儲10個文件 |
數(shù)據(jù)記錄 | 9999 組文件（.csv) |
訊響功能 | 關(guān)/合格/不合格 |
接口 | RS232/RS485/USB/HANDLER/GPIB(可選) |
通訊協(xié)議 | SCPI/Modbus |
其它功能 | 自動LCZ |
電源要求 | AC 100V-240V, 50Hz-60Hz |
尺寸與重量 | 264 (寬)x107(高)x350 (深) |
應(yīng)用
基礎(chǔ)元件和材料測量：電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等
元器件入料檢測
電容器分選檢測
用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制，進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選
點(diǎn)擊交流